Total 53 ea 
No Equipment Maker Model Name Configuration Size Con Qty
53  Handler Seiko-Epson NS 7000, 7080    2 
52  Film measurement Nanometrics Nanospec -910    1 
51  Thickness measurement Nanometrics Nanospec 6100 AT    1 
50  Epi ASM Epsilon 2000    8 1 
49  Burn-in Sorter Mirae 9000 series    2 
48  Tester Agilent 4070  DC/RF  1 
47  Wafer Sorter Any Any model  Working condit  8 1 
46  UF3000 Accretek UF3000  Used for J750  2 
45  XD208 or XD248 SRM XD208 or XD248  QFN type  2 
44  XD208 or XD248 SRM XD208 or XD248  QFN type  2 
43  P5000 Applied Materials P5000  3 chamers  2 
42  M6751A Advantest M6751A  wroking  2 
41  M6741A Advantest M6741A  Working  4 
40  T5581H Advantest T5581H  Working  1 
39  Tester Teradyne iFLEX  inquire  2 
 Start | ◁ 1 [2] [3] [4]  ▷ | Last  
Search